为了让学校广大科研工作者和研究生更全面了解XPS分析技术，更好地利用XPS解决科学问题，4月9日下午，实验室与设备管理中心（分析测试中心）邀请爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司的应用与市场总监鞠焕鑫博士和应用工程师冯林博士，在黄金校区逸夫楼学术报告厅开展了题为《XPS表面分析技术》的专题讲座，讲座由实验室与设备管理中心（分析测试中心）主任叶信宇主持。来自化学化工学院、冶金工程学院、材料科学与工程学院、资环学院、稀土学院、分析测试中心等的200多名师生参加。

鞠焕鑫博士以表面技术的发展历程引出主题，从论文数据中的困惑出发，对XPS、AES、TOF-SIMS三台仪器的仪器工作原理、应用场景、经典案例等方面进行了详细的讲解。并着重介绍了XPS在化学态空间分辨在科学研究中的应用，包括XPS化学态微区分析和深度分析。

冯林博士对讲座内容进行了补充，介绍了XPS从样品制备、实验测试数据处理相关的注意事项，并以实际应用案例说明了XPS化学态微区分析和深度剖析在科学研究中的重要性。

报告结束后，两位博士以问答的形式就XPS应用技术和师生进行了深入的交流讨论，对师生的每个问题都作了专业细致的解答。通过本次讲座，学校相关师生对于XPS应用技术有了更深刻的了解，中心相关工程技术人员对于XPS应用有了更系统的理解，有利于后续XPS测试的进行，达到了开展讲座预期的目的。

                                                                                                                     文：叶柳池/图：张欢