X射线衍射仪（XRD)

型号：Empyream

生产厂家：荷兰PANalytical公司

技术参数：

1、陶瓷X光管：最大功率：2.2kW（Cu靶）

2、测角仪重现性：±0.001度

3、可控最小步进：0.0001度

4、PIXcel3D超能探测器：最大计数率＞109cps

主要功能：

1、粉末衍射：适合粉末或块状材料的物相定性定量分析、晶型鉴别、结晶度测定以及晶胞参数精确测定等

2、薄膜分析：主要针对于薄膜材料的物相鉴定和膜厚测量

3、小角散射：测定起始角≤0.05^o，适合于纳米材料粒径尺寸及分布分析

4、织构分析：适合于块体材料取向测定以及铸造织构研究

5、应力分析：适合于块体材料、涂层与薄膜的残余应力分析

样品要求：

1、粉末衍射：

理想样品颗粒在5-10 微米（或过320目筛）。一般可以放宽到200目。请自行提前将样品破碎并研磨好再送样。大颗粒样品衍射图可能存在峰劈裂等异常现象，如果样品不合要求，我们无法保证数据质量。

如果客户需要分析，请尽量提供样品背景信息（比如元素信息、合成条件、类型等等）。

2、薄膜物相：

薄膜有一定尺寸（>5*5mm²），如果不能直接夹在平板样品台上，请额外提供一块同厚度的基板（10*5 mm²左右）。

高度择优取向的薄膜不适合用掠入射法测量物相，请申请粉末衍射光路测量。

3、薄膜厚度：

薄膜有一定尺寸（>10*10mm²），如果不能直接夹在平板样品台上，请额外提供一块同厚度的基板（10*5 mm²左右）。

薄膜应为表面粗糙度接近纳米级的平面（曲面无法测量）。膜与基板界面应清晰完整，二者电子密度有一定差异。

联系人：

许老师 13879730421