粉末衍射：

理想样品颗粒在5~10 微米（或过320目筛子）。一般可以放宽到200目。请自行提前将样品破碎并研磨好再送样。大颗粒样品衍射图可能存在峰劈裂等异常现象，如果样品不合要求，我们无法保证数据质量。

如果客户需要分析，请尽量提供样品背景信息（比如元素信息、合成条件、类型等等）。

薄膜物相：

薄膜有一定尺寸（>5*5mm²），如果不能直接夹在平板样品台上，请额外提供一块同厚度的基板（10*5 mm²左右）。

高度择优取向的薄膜不适合用掠入射法测量物相，请申请粉末衍射光路测量。

薄膜厚度：

薄膜有一定尺寸（〉10*10mm²），如果不能直接夹在平板样品台上，请额外提供一块同厚度的基板（10*5 mm²左右）。

薄膜应为表面粗糙度接近纳米级的平面（曲面无法测量）。膜与基板界面应清晰完整，二者电子密度有一定差异。

块材表面残余应力：

样品应为上下表面平行的片或块状样品，如果已知主应力方向，请标出。样品重量不能超过2kG，直径在20-120mm间，厚度在300um至30mm间（最好小于10mm）。请在测量前提供样品物相信息。

高度择优取向的样品有可能无法得到应力信息。

块材织构：

样品应为上下表面平行的片或块状样品，样品重量不能超过2kG，直径在20-120mm间，厚度在300um至30mm间（最好小于10mm）。

请在测量前提供样品物相信息，并根据行业要求明确极图对应的晶面指数（如（111）等）及对应的2theta角度。