本网讯 3月21日下午,分析测试中心、国家市场监管重点实验室(稀土产品与溯源)、江西省稀土荧光材料及器件重点实验室和国家稀土功能材料创新中心联合主办了X射线光电子能谱仪(XPS)基本原理及技术应用培训讲座,特邀高德英特(北京)科技有限公司应用工程师冯林博士做了XPS分析技术及最新进展报告。来自材料冶金化学学部、资源与环境工程学院和稀土学院的200多名师生聆听了讲座。讲座采取“线上+线下”的形式在逸夫楼学术报告厅举行,分析测试中心副主任吴伟明教授主持。
![](https://www.jxust.edu.cn/__local/C/19/8B/68A4768FB6D2EA6AB97AE9C1A1A_43027062_CE92F.png)
本次讲座以“XPS表面分析技术原理应用及数据处理”为主题,冯林博士主要从XPS原理、应用及数据处理等三个方面进行了介绍,并以实际应用案例说明了XPS化学态微区分析和深度剖析在科学研究中的重要性。
![](https://www.jxust.edu.cn/__local/A/F7/B4/EFCCEC9ED33BE568AE36C04BC62_E017C9BD_9A879.png)
讲座的后半段,冯林博士介绍了XPS从样品制备、实验测试数据处理相关的注意事项,并现场演示了XPS分析软件“Multipak”的谱峰拟合、数据批处理等过程,并针对师生提问作了专业细致的解答。
![](https://www.jxust.edu.cn/__local/2/A7/4C/7CF6C26FC5BE834CC02B7E784F2_2C5C0A02_E18C0.png)
通过此次讲座,学校相关师生对于XPS应用技术有了更深刻的了解,中心相关工程技术人员对于XPS应用有了更系统的理解,有利于后续XPS测试的进行,取得了良好的效果。
(文/叶柳池、张欢 图/叶柳池 编辑/王金花)